磁体的磁化状态很洪流平上影响使用永磁体器件的特征
。磁体的制造历程分为两个部分：取向历程和磁化历程
。在取向历程中
，在形成磁力的阶段使用定向装置以瞄准磁化的生长偏向
。以后
，磁体暂时退磁
。接着
，在磁化历程中
，磁化妆置实现磁体中所需的磁化状态
。

为了准确评估磁体的磁化状态
，需要思量取向历程和磁化历程
。因此
，通过手工盘算成型模、磁化妆置和磁化电流的行为
，研究磁化状态是极其难题的
。使用有限元法（FEM）举行磁场剖析模拟
，可以从质料特征、装备几何形状和施加电流来盘算磁场定向和磁化场
。凭证这些效果
，还可以使用磁体内部的磁化状态举行剖析
。

该应用说明诠释了怎样获得磁体的外貌磁通密度漫衍
，同时思量取向和磁化历程
。

磁场取向漫衍/磁化场漫衍

磁场偏向漫衍如图1所示
，磁化场漫衍如图2所示
。如图1所示
，磁场取向漫衍险些完全是径向漫衍
。关于这种取向
，通过施加图2所示的磁化场来确定磁体的磁化状态
。

磁化漫衍/外貌磁通密度漫衍

图3展示出磁体A和B中的磁化漫衍
。磁体A是通过思量图1所示的磁场定向而磁化的磁体
。磁体B是磁体
，其具有理想的径向取向
。在图4中展示了已经安排在空气中的磁体外貌的距离为0.5毫米的磁通密度漫衍
。

从图3中可以看出
，磁体A端部的磁化强度大于磁体B的磁化强度
，这是由于图1所示的磁体A端部的取向与图2所示的磁化场漫衍更类似于磁体B
，从图4可以看出T
。在磁极中心
，磁体B的外貌磁通密度比磁体A高
。这是由于图1所示的磁体A的磁极中心的取向与图2所示的磁化磁场的偏向相比
，与图3中的效果差别
，在图的末尾处的外貌磁通密度漫衍差别于Magnet B.
。磁铁差别很大
。

这就是为什么要准确地评估磁体的磁化状态
，需要思量磁场的偏向和磁化场
。

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